Mövzular


1. Atom
2. Gərginlik, Cərəyan, Om qanunu, Müqavimət
3. Sabit cərəyan, Batareyalar, Günəş panelləri
4. Dəyişən cərəyan
5. İnduktivlik, Kondensator
6. Təcrübə
7. Yarımkeçiricilər
8. Diod
9. Tranzistor
10. Tristor
11. Simistor
12. Əməliyyat gücləndiriciləri
13. Təcrübə
14. Say sistemləri
15. BCD, qray şifrələmə
16. Məntiq qapıları
17. Məntiq elementlərinin sadələşdirilməsi
18. TTL qapı dövrələri
19. CMOS qapılar
20. Boolean məntiqi və teoremi
21. Multiplexer
22. Demultiplexer
23. Multivibratorlar
24. Trigerlər və növləri
25. Sayğaclar
26. Registerlər
27. ADC- DAC
28. Təcrübə
29. Mikroprosessor və mikrokontroller texnologiyası
30. Mikroprosessor və mikrokontroller parametrləri
31. Mikrokontroller programlaşdırma məntiqi (Microchip, Atmel, STM)
32. Ölçü alətlərindən istifadə qaydaları
33. Multimetr ilə elementləri test etmə, dövrə analizi
34. Osiloqraf ilə dövrəni test eləmə metodları
35. İmpedans cihazları ilə test eləmə metodları
36. Dövrə oxuma texnologiyasının sirləri
37. Dövrə analiz etmə metodları
38. Dövrədə problemli elementləri analiz etmə texnologiyasının sirləri
39. Lehimləmə texnologiyası
40. Qısa dövrə, açıq dövrə aşkar etmə metodları
41. Dövrə kartını sxemsiz analiz etmə metodları
42. Datasheet-lərin oxunması texnologiyasının sirləri
43. Oksidləşmiş dövrə kartına göstəriləcək ilkin və sonradan qulluq
44. Yanmış dövrə kartında yenidən dövrə xətlərinin yaradılması, yanmış dövrə kartları üçün bərpa metodları
45. Dövrə kartında qırılmış xəttin tapılması - xətt atma metodu
46. Sxemi olmayan dövrə kartının işlək halda təsadüfi siqnalların verilməsi, yadda saxlanılması, daha sonra xarab dövrə kartı ilə müqayisə metodları
47. EEPROM-ların yazılması/silinməsi
48. FPGA texnologiyası (Altera)
49. Proteus və Eagle ümumi məlumat
50. 17. JTAG texnologiyası ilə dövrə üzərində olan inteqral dövrələrin (mikrosxem) analizi
51. İnteqral dövrə (mikrosxem) analizi, problemlərin tapılması
52. İnteqral dövrə (mikrosxem) test metodları